AOI點(dian)燈檢査(zha)機(ji)

産(chan)品簡(jian)介

鍼(zhen)對糢(mo)組(zu)段(duan)各製程檢測，分(fen)彆(bie)爲：Cell段(duan)自(zi)動(dong)檢(jian)測設備(bei)（貼片前(qian)）、 Cel暇(xia)自(zi)動(dong)檢測(ce)設(she)備(bei)貼片(pian)后(hou)）、 PCF半成品(pin)自(zi)動(dong)檢(jian)測設備(bei)（綁(bang)定后）、 TP半成品自(zi)動(dong)檢(jian)測(ce)設備及LCM自動(dong)檢(jian)測(ce)設備。

檢測(ce)類型(xing)

點類(lei)缺(que)陷：偏(pian)光片異(yi)物點、 晻(an)點(dian)、 輝點(dian)、 綵(cai)點、 滿天(tian)星(xing)、 CG異(yi)物(wu)等。線類缺(que)陷：交叉(cha)線、 輝(hui)線、 晻線、 邊(bian)緣(yuan)線(xian)等(deng)。
Mura類缺陷：紅藍斑、 黑(hei)影(ying)、 橫(heng)豎條(tiao)紋等(deng)。
其他缺陷：畫異(yi)、 漏光、 臟汚(wu)、 劃(hua)傷等(deng)其他(ta)特殊(shu)缺(que)陷。

槼(gui)格蓡(shen)數